表面和界面的性質(zhì)在材料制備、性能及應(yīng)用等方面都起著重要作用，是材料科學(xué)領(lǐng)域研究的重要課題。

2023年12月18-21日，由瑞昌明盛主辦的第五屆材料表征與分析檢測(cè)技術(shù)網(wǎng)絡(luò)會(huì)議將于線上召開(kāi)，會(huì)議聚焦成分分析、微區(qū)結(jié)構(gòu)與形貌分析、表面和界面分析、物相及熱性能分析等內(nèi)容，設(shè)置六個(gè)專場(chǎng)，旨在幫助廣大科研工作者了解前沿表征與分析檢測(cè)技術(shù)，解決材料表征與分析檢測(cè)難題，開(kāi)展表征與檢測(cè)相關(guān)工作。

其中，在表面和界面分析專場(chǎng)，北京師范大學(xué)教授級(jí)高工吳正龍、國(guó)家納米科學(xué)中心研究員陳嵐、暨南大學(xué) 實(shí)驗(yàn)中心主任/教授謝偉廣、上海交通大學(xué)分析測(cè)試中心中級(jí)工程師張南南、島津企業(yè)管理（中國(guó)）有限公司應(yīng)用工程師吳金齊等多位嘉賓將為大家?guī)?lái)精彩報(bào)告。

部分報(bào)告內(nèi)容預(yù)告如下（按報(bào)告時(shí)間排序）：

北京師范大學(xué)教授級(jí)高工?吳正龍
《X射線光電子能譜（XPS）定量分析》點(diǎn)擊報(bào)名聽(tīng)會(huì)

吳正龍，在北京師范大學(xué)分析測(cè)試中心長(zhǎng)期從事電子能譜、熒光和拉曼光譜分析測(cè)試、教學(xué)及實(shí)驗(yàn)室管理工作。熟悉表面分析和光譜分析技術(shù)，積累了豐富實(shí)驗(yàn)測(cè)試經(jīng)驗(yàn)。主要從事薄膜材料、稀土發(fā)光材料研究及石墨烯材料表征技術(shù)、表面增強(qiáng)拉曼光譜技術(shù)的研究，在國(guó)內(nèi)外期刊發(fā)標(biāo)多篇學(xué)術(shù)論文?，F(xiàn)任全國(guó)表面化學(xué)析技術(shù)委員會(huì)副主任委員，主持和參與多項(xiàng)電子能譜分析方法標(biāo)準(zhǔn)。近年來(lái)，在多場(chǎng)國(guó)內(nèi)電子能譜應(yīng)用技術(shù)交流培訓(xùn)會(huì)上擔(dān)任主講人。

報(bào)告摘要：X射線光電子能譜（XPS）作為最常用的表面分析技術(shù)，表面探測(cè)靈敏度高，可以檢測(cè)表面化學(xué)態(tài)物種的表面平均含量、表面偏析；分析薄膜組成結(jié)構(gòu)；評(píng)估表面覆蓋、表面分散、表面損傷、表面吸附污染等。本報(bào)告在簡(jiǎn)要介紹XPS表面定量分析原理基礎(chǔ)上，通過(guò)實(shí)際工作中的一些實(shí)例，探討XPS定量結(jié)果解釋，幫助大家正確理解XPS定量分析結(jié)果，更好地利用XPS技術(shù)分析表面。

島津企業(yè)管理（中國(guó)）有限公司應(yīng)用工程師?吳金齊

《島津XPS技術(shù)在材料表面分析中的應(yīng)用》點(diǎn)擊報(bào)名聽(tīng)會(huì)

吳金齊，島津分析中心應(yīng)用工程師，博士畢業(yè)于中山大學(xué)物理化學(xué)專業(yè)，博士畢業(yè)后加入島津公司，主要負(fù)責(zé)XPS的應(yīng)用開(kāi)發(fā)、技術(shù)支持、合作研究等工作，使用XPS技術(shù)開(kāi)展不同行業(yè)材料表征相關(guān)研究，具有多年XPS儀器使用經(jīng)驗(yàn)，熟悉XPS數(shù)據(jù)處理及解析，合作發(fā)表多篇SCI論文。

報(bào)告摘要：介紹相關(guān)表面分析技術(shù)及XPS在材料表面分析中的應(yīng)用。

國(guó)家納米科學(xué)中心研究員?陳嵐

《納米氣泡氣液界面的檢測(cè)》點(diǎn)擊報(bào)名聽(tīng)會(huì)

陳嵐，愛(ài)爾蘭國(guó)立科克大學(xué)理學(xué)博士，劍橋大學(xué)居里學(xué)者，2014年至今，先后任國(guó)家納米科學(xué)中心副研究員、研究員及博士研究生（合作）導(dǎo)師；主要從事納米界面微觀檢測(cè)及納米界面光電化學(xué)性能調(diào)控方面的研究；ISO/TC281注冊(cè)專家，全國(guó)微細(xì)氣泡技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)（SAC/TC584）委員，中國(guó)顆粒學(xué)會(huì)微納氣泡、氣溶膠專委會(huì)委員，F(xiàn)rontiers in Materials及Catalysts客座編輯，科技部在庫(kù)專家，北京市科委項(xiàng)目評(píng)審專家；主持科技部發(fā)展中國(guó)家杰出青年科學(xué)家來(lái)華工作計(jì)劃1項(xiàng)，參與國(guó)家重點(diǎn)研發(fā)計(jì)劃“納米科技”重點(diǎn)專項(xiàng)、“納米前沿”重點(diǎn)專項(xiàng)各1項(xiàng)；共發(fā)表論文近60篇，授權(quán)專利9項(xiàng)，編制國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)10部。

報(bào)告摘要：體相納米氣泡具有超常的穩(wěn)定性及超高的內(nèi)壓，高內(nèi)壓的納米氣泡在溶液中穩(wěn)定存在的機(jī)制一直眾說(shuō)紛紜。因此，研究納米氣泡邊界層對(duì)于解釋納米氣泡的穩(wěn)定性具有重要的意義。由于納米氣泡氣液界面的特點(diǎn)，檢測(cè)體相納米氣泡邊界層十分困難，常規(guī)的方法和技術(shù)手段很難實(shí)現(xiàn)。在本工作中，首次采用低場(chǎng)核磁共振技術(shù)（LF-NMR）對(duì)體相納米氣泡邊界層中水分子的弛豫規(guī)律進(jìn)行了系統(tǒng)研究，提出了納米氣泡邊界層測(cè)量的數(shù)學(xué)模型，并成功地測(cè)得了不同尺寸納米氣泡的邊界層厚度。研究發(fā)現(xiàn)，納米氣泡粒徑越小，邊界層所占比例越高，因而也越可以對(duì)更高內(nèi)壓的氣核進(jìn)行有效保護(hù)，納米氣泡的穩(wěn)定性也可以據(jù)此進(jìn)行定量解釋。

暨南大學(xué) 實(shí)驗(yàn)中心主任/教授謝偉廣
《范德華異質(zhì)結(jié)光電探測(cè)及光電存儲(chǔ)器件》點(diǎn)擊報(bào)名聽(tīng)會(huì)

謝偉廣，暨南大學(xué)物理與光電工程學(xué)院教授，博導(dǎo)。2007年博士畢業(yè)于中山大學(xué)凝聚態(tài)物理專業(yè)，導(dǎo)師為許寧生院士；研究方向是微納尺度多場(chǎng)耦合行為及應(yīng)用，半導(dǎo)體光電轉(zhuǎn)換過(guò)程、器件及集成；在Advanced Materials, ACS Nano等期刊發(fā)表SCI論文80多篇，代表性成果包括：實(shí)現(xiàn)了多種二維半導(dǎo)體氧化物的CVD制備，首次發(fā)現(xiàn)了極性二維氧化物長(zhǎng)波紅外低損耗雙曲聲子極化激元現(xiàn)象；發(fā)展了鈣鈦礦薄膜的真空氣相制備方法，實(shí)現(xiàn)了高效氣相太陽(yáng)能電池及光電探測(cè)陣列的制備。研究團(tuán)隊(duì)發(fā)展的多項(xiàng)方法已被國(guó)內(nèi)外同行廣泛采納，并在Nature、Sciecne等著名期刊正面評(píng)價(jià)。主持國(guó)家基金面上項(xiàng)目、重點(diǎn)項(xiàng)目子課題、廣東省自然科學(xué)基金杰出青年基金項(xiàng)目等多項(xiàng)項(xiàng)目；于2022年（排名第一）獲得中國(guó)分析測(cè)試協(xié)會(huì)科學(xué)技術(shù)（CAIA）獎(jiǎng)一等獎(jiǎng)。

報(bào)告摘要：二維鈣鈦礦（2DPVK）具有獨(dú)特的晶體結(jié)構(gòu)和突出的光電特性，設(shè)計(jì)2DPVK與其他二維材料的范德華異質(zhì)結(jié)，可以實(shí)現(xiàn)具有優(yōu)異性能的各類光電器件。本報(bào)告主要介紹下面兩種異質(zhì)結(jié)器件：（1）光電探測(cè)器：制備了2DPVK/MoS2范德華異質(zhì)結(jié)器件，由于II型能帶排列中層間電荷轉(zhuǎn)移所誘導(dǎo)的亞帶隙光吸收，器件在近紅外區(qū)域表現(xiàn)出了單一材料均不具備的光電響應(yīng)。在此基礎(chǔ)上引入石墨烯（Gr）夾層，借助Gr的有效寬光譜吸收和異質(zhì)結(jié)中光生載流子的快速分離和輸運(yùn)，2DPVK/Gr/MoS2器件的近紅外探測(cè)性能進(jìn)一步得到了大幅提升。（2）光電存儲(chǔ)器：開(kāi)發(fā)了基于MoS2/h-BN/2DPVK浮柵型光電存儲(chǔ)器，其中2DVPK由于其高光吸收系數(shù)，能同時(shí)作為光電活性層與電荷存儲(chǔ)層，器件展現(xiàn)了獨(dú)特的光誘導(dǎo)多位存儲(chǔ)效應(yīng)以及可調(diào)諧的正/負(fù)光電導(dǎo)模式。

上海交通大學(xué)分析測(cè)試中心中級(jí)工程師?張南南
《紫外光電子能譜（UPS）樣品制備、數(shù)據(jù)處理及應(yīng)用分享》點(diǎn)擊報(bào)名聽(tīng)會(huì)

張南南，博士，2019年畢業(yè)于吉林大學(xué)無(wú)機(jī)化學(xué)系，同年入職上海交通大學(xué)分析測(cè)試中心，研究方向?yàn)椴牧系谋斫缑嫜芯?，主要?fù)責(zé)表面化學(xué)分析方向的X射線光電子能譜儀（XPS）及飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜（ToF-SIMS）方面的測(cè)試工作。獲得上海交通大學(xué)決策咨詢課題資助，授權(quán)一項(xiàng)發(fā)明專利，并在 J. Colloid Interf. Sci.， Catal. Commun.等期刊發(fā)表了相關(guān)學(xué)術(shù)論文。

報(bào)告摘要：紫外光電子能譜(UPS)，能夠在高能量分辨率水平上探測(cè)價(jià)層電子能級(jí)的亞結(jié)構(gòu)和分子振動(dòng)能級(jí)的精細(xì)結(jié)構(gòu)，廣泛應(yīng)用在表/界面的電子結(jié)構(gòu)表征方面。本報(bào)告主要介紹UPS原理、樣品制備、數(shù)據(jù)處理以及在鈣鈦礦太陽(yáng)能電池、有機(jī)半導(dǎo)體、催化材料等領(lǐng)域的應(yīng)用。

參會(huì)指南

1、進(jìn)入第五屆材料表征與分析檢測(cè)技術(shù)網(wǎng)絡(luò)會(huì)議官網(wǎng)（https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/icmc2023/）進(jìn)行報(bào)名。

掃描下方二維碼，進(jìn)入會(huì)議官網(wǎng)報(bào)名

2、會(huì)議召開(kāi)前統(tǒng)一報(bào)名審核，審核通過(guò)后將以短信形式向報(bào)名手機(jī)號(hào)發(fā)送在線聽(tīng)會(huì)鏈接。

3、本次會(huì)議不收取任何注冊(cè)或報(bào)名費(fèi)用。

4、會(huì)議聯(lián)系人：高老師（電話：010-51654077-8285? 郵箱：gaolj@instrument.com.cn）

5、贊助聯(lián)系人：周老師（電話：010-51654077-8120? 郵箱：zhouhh@instrument.com.cn）