材料的微區(qū)結(jié)構(gòu)與形貌特征具有重要的研究意義，常用的分析方法有光學(xué)顯微鏡、掃描電子顯微鏡、能譜和電子背散射衍射、透射電子顯微鏡、掃描隧道顯微鏡、原子力顯微鏡、X射線CT等。
為幫助廣大工作者了解前沿表征與分析檢測(cè)技術(shù)，解決材料表征與分析檢測(cè)難題，開展表征與檢測(cè)相關(guān)工作，瑞昌明盛將于2023年12月18-21日舉辦第五屆材料表征與分析檢測(cè)技術(shù)網(wǎng)絡(luò)會(huì)議，特別設(shè)置微區(qū)結(jié)構(gòu)與形貌分析專場(chǎng)，邀請(qǐng)多位專家學(xué)者圍繞材料微區(qū)結(jié)構(gòu)與形貌分析技術(shù)研究與相關(guān)應(yīng)用展開分享。
部分報(bào)告預(yù)告如下（按報(bào)告時(shí)間排序）：
天津大學(xué)材料學(xué)院測(cè)試中心副主任/副高 毛晶
《透射電子顯微鏡鏡技術(shù)在材料微區(qū)結(jié)構(gòu)及形貌分析中的應(yīng)用研究》點(diǎn)擊報(bào)名聽會(huì)
毛晶，天津大學(xué)材料學(xué)院測(cè)試中心副主任/副高。負(fù)責(zé)透射電鏡、X射線衍射儀及透射相關(guān)制樣儀器（包括球差透射電鏡、離子減薄儀等）的運(yùn)行維護(hù)及分析測(cè)試工作，具有較豐富的測(cè)試經(jīng)驗(yàn)。熟悉其他各種大型儀器，包括XPS 、FIB 、 SEM等儀器原理、構(gòu)造及使用。2017年赴美國布魯克海文國家實(shí)驗(yàn)室納米功能所透射電鏡組研修一年。掌握球差及冷凍桿、原位加熱桿、電感、三維重構(gòu)等各種透射電鏡先進(jìn)技術(shù)。通過合作的模式將其應(yīng)用在各種納米及能源材料的表征中。
報(bào)告摘要：透射電子顯微鏡技術(shù)具有高分辨率，可以實(shí)現(xiàn)原子尺度材料結(jié)構(gòu)及形貌觀察，是材料研究必不可少的手段。本報(bào)告主要介紹透射電子顯微技術(shù)在材料微區(qū)結(jié)構(gòu)及形貌分析的應(yīng)用研究，例如透射電鏡STEM技術(shù)在電催化材料界面中的研究應(yīng)用、納米束衍射及中心暗場(chǎng)像在合金材料析出相觀察等，并圍繞具體工作對(duì)透射電子顯微鏡相關(guān)數(shù)據(jù)處理技術(shù)例如幾何相位分析、三維成像技術(shù)等進(jìn)行簡(jiǎn)單的介紹。
牛津儀器科技(上海)有限公司應(yīng)用科學(xué)家?楊小鵬
《牛津儀器多種顯微分析技術(shù)及成像系統(tǒng)的介紹及應(yīng)用》點(diǎn)擊報(bào)名聽會(huì)
楊小鵬，博士，2010年畢業(yè)于清華大學(xué)材料科學(xué)與工程系。在校期間主要研究材料相變及表征微觀組織，熟悉SEM、XRD、TEM、同步輻射等技術(shù)手段。曾任職EBSD后處理功能軟件開發(fā)，熟悉晶體學(xué)及EBSD技術(shù)底層的計(jì)算。2014年加入牛津儀器，主要負(fù)責(zé)EBSD技術(shù)支持及應(yīng)用推廣。
報(bào)告摘要：本報(bào)告主要介紹牛津儀器MAG部門的多種顯微分析技術(shù)及成像系統(tǒng)，包括NA部門的EDS和EBSD，在電鏡上提供微區(qū)的元素和結(jié)構(gòu)分析；全新的Unity探測(cè)器，集合了BSE圖像探測(cè)器和X光探測(cè)器，適合快速、大區(qū)域、實(shí)時(shí)的樣品表面形貌和成分成像；AZtecWave系統(tǒng)將Wave波譜儀整合到成熟的微區(qū)分析系統(tǒng)AZtec中，有效提高了波譜儀的操控性，適合微量、痕量元素的高精度定量分析，也能有效避免元素的重疊峰。AR部門的原子力顯微鏡，如Cypher、Jupiter等，能提供高通量、高分辨的原子力顯微鏡成像，適合多種物性的分析和研究。WiTec部門提供的高靈敏度、高分辨激光共聚焦拉曼顯微鏡，通過分析微區(qū)的化學(xué)鍵，可以提供相、結(jié)晶性、含量等豐富的信息，分辨率達(dá)到300nm，也能做淺表層的3D成像。拉曼顯微鏡還能和電鏡整合成一體化的聯(lián)用系統(tǒng)，適合快速多技術(shù)分析同一感興趣區(qū)。報(bào)告還會(huì)介紹幾個(gè)多技術(shù)聯(lián)用的應(yīng)用案例。
徠卡顯微系統(tǒng)(上海)貿(mào)易有限公司應(yīng)用工程師?姚永朋
《徠卡光學(xué)顯微鏡在不同尺度下的形貌表征》點(diǎn)擊報(bào)名聽會(huì)
姚永朋，徠卡顯微系統(tǒng)工業(yè)顯微鏡應(yīng)用工程師，負(fù)責(zé)徠卡工業(yè)顯微鏡技術(shù)支持工作，在制樣及顯微觀察等方面經(jīng)驗(yàn)豐富。
報(bào)告摘要：光學(xué)顯微鏡是材料表面及微觀結(jié)構(gòu)觀察分析中的常用儀器，此次報(bào)告將分別介紹徠卡體式顯微鏡、金相顯微鏡、數(shù)碼顯微鏡等不同類型的光學(xué)顯微鏡在不同尺度下的表面結(jié)構(gòu)觀察及分析應(yīng)用。
華中科技大學(xué)，武漢光電國家研究中心教授?李露穎
《半導(dǎo)體納米材料原子尺度結(jié)構(gòu)性能研究》點(diǎn)擊報(bào)名聽會(huì)
李露穎，華中科技大學(xué)武漢光電國家研究中心教授，博士生導(dǎo)師。2011年5月畢業(yè)于美國亞利桑那州立大學(xué)，獲博士學(xué)位，主要從事半導(dǎo)體納米材料原子分辨率微結(jié)構(gòu)及納米尺度電學(xué)性能的結(jié)合研究，重點(diǎn)關(guān)注材料的特定原子結(jié)構(gòu)及相應(yīng)電勢(shì)、電場(chǎng)、電荷分布對(duì)宏觀物理性質(zhì)的影響，取得了一系列有影響力的研究成果，工作被Nature Physics 雜志選為研究亮點(diǎn)，并評(píng)價(jià)為結(jié)構(gòu)-性能相關(guān)研究的典范。到目前為止累積發(fā)表SCI 收錄第一作者或通訊作者論文39篇（IF≥10的21篇），包括Advanced Materials、Nano Letters、Nature Communications、Advance Science、Advanced Functional Materials、Science Bulletin、ACS Nano、Nano Energy、Chemical Engineering Journal、Small等，論文總引用4500余次，H因子為31，多次受邀在國際國內(nèi)電子顯微學(xué)年會(huì)上做邀請(qǐng)報(bào)告，目前擔(dān)任湖北省電子顯微鏡學(xué)會(huì)理事。
報(bào)告摘要：結(jié)合電子全息技術(shù)的納米尺度定量電學(xué)性能表征功能和球差校正技術(shù)的原子分辨率微結(jié)構(gòu)表征功能，實(shí)現(xiàn)了半導(dǎo)體納米材料電荷分布的電子全息研究，半導(dǎo)體納米材料界面納米尺度電場(chǎng)與原子尺度微結(jié)構(gòu)的結(jié)合研究，以及各種外界激勵(lì)下半導(dǎo)體納米材料及器件的原位結(jié)構(gòu)性能相關(guān)研究。 利用電子全息技術(shù)，得到了IV族Ge/Si族量子點(diǎn)和核殼結(jié)構(gòu)納米線、III-V族GaAs/InAs納米線、量子點(diǎn)和量子阱組合器件的電荷分布情況，以及n-ZnO/i-ZnO/p-AlGaN異質(zhì)結(jié)發(fā)光二極管性能增強(qiáng)的微觀機(jī)理；利用球差校正技術(shù)的原子尺度表征功能，獲得了復(fù)合半導(dǎo)體ZnSe納米帶同質(zhì)異構(gòu)結(jié)中自發(fā)極化相關(guān)電荷裁剪效應(yīng)的直接實(shí)驗(yàn)證據(jù)，并對(duì)InSe納米棒中多型體界面極化場(chǎng)進(jìn)行了原子尺度定量研究。同時(shí)通過精確測(cè)定(K,Na)NbO3鐵電納米線界面原子尺度極化場(chǎng)，獲得其相應(yīng)材料在退火后宏觀壓電效應(yīng)線性增加的微觀機(jī)制。利用原位熱學(xué)表征技術(shù)，研究了KxWO3納米片中陽離子有序結(jié)構(gòu)并隨溫度的變化規(guī)律，CsPbBr3納米晶中 Ruddlesden–Popper層錯(cuò)的調(diào)控機(jī)制及其對(duì)光致發(fā)光性能的影響機(jī)理；利用原子尺度的原位熱學(xué)表征技術(shù)研究了PbSe納米晶隨尺寸變化的晶體生長(zhǎng)和升華機(jī)制。利用原位力學(xué)表征技術(shù)獲得MXene高性能壓阻傳感器的微觀作用機(jī)理。
上海交通大學(xué)分析測(cè)試中心冷凍電鏡中心副主任?郭新秋
《透射電鏡表征磁性材料樣品的前處理技術(shù)路線探索》點(diǎn)擊報(bào)名聽會(huì)
郭新秋，上海交通大學(xué)分析測(cè)試中心冷凍電鏡中心副主任。長(zhǎng)期在透射電鏡相關(guān)領(lǐng)域的測(cè)試一線工作，在場(chǎng)發(fā)射透射電鏡、冷凍透射電鏡及相關(guān)樣品制備等方面積累了豐富的表征分析經(jīng)驗(yàn)，主持或參與多項(xiàng)顯微成像方法學(xué)研究課題，支撐相關(guān)團(tuán)隊(duì)在Small, Nature Physics, Nature communications, energy & environmental science等期刊上發(fā)表多篇高水平論文。
報(bào)告摘要：透射電鏡是以波長(zhǎng)極短的電子束作為照明源，用電磁透鏡對(duì)透射電子聚焦成像的一種具有高分辨本領(lǐng)、高放大倍數(shù)的大型電子光學(xué)儀器。作為一種先進(jìn)的表征手段，透射電子顯微技術(shù)在各種功能材料的研究中發(fā)揮了重要的作用。磁性材料指能直接或間接產(chǎn)生磁性的一類材料，通常含有鐵、鈷、鎳、釹、硼、釤以及稀土金屬（鑭系），其磁性強(qiáng)弱與樣品本身的含量和價(jià)態(tài)相關(guān)。隨著表征技術(shù)的快速進(jìn)步，磁性材料的設(shè)計(jì)與應(yīng)用不斷更新，相關(guān)的研究廣受關(guān)注。不同組成、不同結(jié)構(gòu)的磁性材料展現(xiàn)出不同的化學(xué)與磁學(xué)特性，在眾多領(lǐng)域都有著廣泛的應(yīng)用。但是，由于透射電鏡原理是基于電子與磁場(chǎng)的相互作用來進(jìn)行成像，鏡筒內(nèi)部磁場(chǎng)強(qiáng)度高達(dá)2T以上，如果樣品未固定好，更會(huì)發(fā)生被吸到極靴上的危險(xiǎn)。鏡筒一旦受到磁性顆粒污染則很難處理，長(zhǎng)時(shí)間的積累對(duì)電鏡是一種慢性傷害。在調(diào)研中得知，有實(shí)驗(yàn)室就發(fā)生過此類事件，最終不得不拆機(jī)進(jìn)行維修。還有一些高校平臺(tái)直接在網(wǎng)站上明確表明了無法進(jìn)行磁性材料測(cè)試。本報(bào)告提出了一種透射電鏡表征磁性材料的前處理的分類和方法，希望對(duì)廣發(fā)電鏡工作者和科研工作者有所幫助。
弗爾德(上海)儀器設(shè)備有限公司應(yīng)用經(jīng)理?王波
《二維及三維EBSD分析樣品的高效制備方法介紹及應(yīng)用》點(diǎn)擊報(bào)名聽會(huì)
王波，天津大學(xué)材料學(xué)專業(yè)博士畢業(yè)，曾在摩托羅拉-實(shí)驗(yàn)室（亞洲）擔(dān)任高級(jí)失效分析工程師及資深實(shí)驗(yàn)室經(jīng)理。2013年起先后擔(dān)任知名美國金相品牌亞太區(qū)應(yīng)用主管及德國ATM品牌中國區(qū)應(yīng)用經(jīng)理。在先進(jìn)制樣尤其是EBSD樣品制備方面擁有豐富的經(jīng)驗(yàn)，并應(yīng)邀在國內(nèi)進(jìn)行過多場(chǎng)金相制樣技術(shù)講座，分享最新的樣品制備理論、設(shè)備耗材及應(yīng)用案例，深受好評(píng)。
報(bào)告摘要：EBSD分析樣品的制備極具挑戰(zhàn)性，導(dǎo)致科研人員常會(huì)遇到制樣成本高、效率低、成功率低等問題。本講座將著重介紹現(xiàn)代金相制樣方法——機(jī)械磨拋法及電解拋光法高效制備EBSD分析樣品的基本理論、適用范圍、技術(shù)難點(diǎn)、實(shí)操技巧及應(yīng)用案例，分享經(jīng)濟(jì)、高效制備EBSD樣品的思路和經(jīng)驗(yàn)。同時(shí)，使用3D分析表征和重構(gòu)技術(shù)，從(亞)納米到毫米的尺度來研究微觀組織和性能的關(guān)系已經(jīng)成為關(guān)注熱點(diǎn)。講座也將介紹基于金相連續(xù)切片重構(gòu)和EBSD技術(shù)的大體積材料三維EBSD分析樣品制備的最新進(jìn)展和解決方案。
鋼研納克檢測(cè)技術(shù)股份有限公司高級(jí)工程師 李云玲
《原位拉伸及電子背散射衍射在金屬材料微觀表征中應(yīng)》點(diǎn)擊報(bào)名聽會(huì)
李云玲，鋼研納克檢測(cè)技術(shù)股份有限公司高級(jí)工程師，從事金屬材料微觀表征工作10余年，主要研究方向包括金屬構(gòu)件失效分析、斷口分析、微觀表征技術(shù)等。獨(dú)立完成400余項(xiàng)材料失效分析案例。完成的典型項(xiàng)目有：某型號(hào)艦艇動(dòng)力系統(tǒng)部件失效原因分析、高鐵車輪裂紋原因分析、核電乏燃料池不銹鋼壁附著物分析、國電逆流變部件失效原因分析、合成氨設(shè)備焊接裂紋分析等。大型失效分析項(xiàng)目的完成，為國防設(shè)備可靠性提供了技術(shù)支持，挽回了客戶大量經(jīng)濟(jì)損失，得到企業(yè)的多次好評(píng)。相關(guān)工作成果多次在全國鋼鐵材料掃描電鏡圖像競(jìng)賽及金相比賽中獲獎(jiǎng)，在國外SCI、EI、中文核心等期刊上發(fā)表論文20余篇，參與起草修訂多個(gè)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)，如《鋼中夾雜物的自動(dòng)分類和統(tǒng)計(jì)掃描電鏡能譜法》（T/CSTM 00346-2021）、《鋼中晶粒尺寸測(cè)定 高溫激光共聚焦顯微鏡法》（T/CSTM 00799-2023）、《材料實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)掃描電鏡圖片要求》（T/CSTM 00795-2022）等。
報(bào)告摘要：從原位拉伸（in-situ tensile）及電子背散射衍射（EBSD）的基本理論及基本方法出發(fā)，介紹兩種新技術(shù)在金屬材料微觀表征中的應(yīng)用，闡述其技術(shù)應(yīng)用過程，包括但不限于在微觀表征領(lǐng)域的重要作用，最后從當(dāng)前技術(shù)局限出發(fā)探討未來可能的重要?jiǎng)?chuàng)新。
布魯克(北京)科技有限公司應(yīng)用科學(xué)家?陳劍鋒
《布魯克的平插能譜儀與微區(qū)XRF介紹》點(diǎn)擊報(bào)名聽會(huì)
陳劍鋒，2003年畢業(yè)于中科院長(zhǎng)春應(yīng)化所，主要研究方向是高分辨電子顯微鏡在高分子結(jié)晶中的應(yīng)用，畢業(yè)后加入FEI，負(fù)責(zé)SEM/SDB的應(yīng)用、培訓(xùn)以及市場(chǎng)等推廣工作。2011年加入安捷倫公司負(fù)責(zé)SEM的市場(chǎng)和應(yīng)用工作，2018年在賽默飛負(fù)責(zé)SEM的應(yīng)用工作。2021年加入布魯克，負(fù)責(zé)EDS,、EBSD、 Micro-XRF等產(chǎn)品的技術(shù)支持工作，對(duì)電子顯微鏡的相關(guān)應(yīng)用具有多年的實(shí)操經(jīng)驗(yàn)。
報(bào)告摘要：布魯克獨(dú)有的平插能譜探頭因其獨(dú)特的設(shè)計(jì)，具有更大的立體角，使能譜分析在低能譜線的采集方面有很大的優(yōu)勢(shì)，尤其是目前比較流行的納米結(jié)構(gòu)材料的分析，而微區(qū)熒光在檢測(cè)限上的優(yōu)勢(shì)則是目前工業(yè)，地質(zhì)，環(huán)境檢測(cè)等領(lǐng)域進(jìn)行重金屬元素，微量元素的強(qiáng)有力的工具，在相關(guān)的領(lǐng)域中也得到了越來越廣泛的應(yīng)用。本報(bào)告將主要介紹布魯克公司的平插能譜和微區(qū)熒光產(chǎn)品及其應(yīng)用。
中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所研究員?程國峰
《X射線三維成像技術(shù)及應(yīng)用》點(diǎn)擊報(bào)名聽會(huì)
程國峰，理學(xué)博士，博士生導(dǎo)師，中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所 X射線衍射結(jié)構(gòu)表征課題組組長(zhǎng)。中國晶體學(xué)會(huì)粉末衍射專業(yè)委員會(huì)委員、中國物理學(xué)會(huì)固體缺陷專業(yè)委員會(huì)委員、上海市物理學(xué)會(huì)X射線衍射與同步輻射專業(yè)委員會(huì)副主任兼秘書長(zhǎng)。主要研究領(lǐng)域?yàn)閄射線衍射與散射理論及應(yīng)用、三維X射線成像術(shù)、拉曼光譜學(xué)等。曾先后主持國家自然科學(xué)基金、上海市和中國科學(xué)院項(xiàng)目多項(xiàng)，主編出版《納米材料的X射線分析》、《二維X射線衍射》等專譯著4部，發(fā)布國家標(biāo)準(zhǔn)和企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)12項(xiàng)，獲專利授權(quán)7項(xiàng)，在Nat. Mater.,J. Appl. Phys.，Mater. Lett.等SCI期刊上發(fā)表論文90余篇。
參會(huì)指南
1、進(jìn)入第五屆材料表征與分析檢測(cè)技術(shù)網(wǎng)絡(luò)會(huì)議官網(wǎng)（https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/icmc2023/）進(jìn)行報(bào)名。
掃描下方二維碼，進(jìn)入會(huì)議官網(wǎng)報(bào)名
2、報(bào)名開放時(shí)間為即日起至2023年12月18日。
3、會(huì)議召開前統(tǒng)一報(bào)名審核，審核通過后將以短信形式向報(bào)名手機(jī)號(hào)發(fā)送在線聽會(huì)鏈接。
4、本次會(huì)議不收取任何注冊(cè)或報(bào)名費(fèi)用。
5、會(huì)議聯(lián)系人：高老師（電話：010-51654077-8285? 郵箱：gaolj@instrument.com.cn）
6、贊助聯(lián)系人：周老師（電話：010-51654077-8120? 郵箱：zhouhh@instrument.com.cn）
