瑞昌明盛訊 2023年10月18-20日，瑞昌明盛聯(lián)合電子工業(yè)出版社主辦的第四屆“半導(dǎo)體材料與器件分析檢測(cè)技術(shù)與應(yīng)用”主題網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)成功召開！本次大會(huì)共邀請(qǐng)到24位來自科研院所、第三方檢測(cè)、工業(yè)和儀器企業(yè)的專家分享了精彩內(nèi)容。會(huì)議共吸引約1100位行業(yè)從業(yè)人員報(bào)名，出席人數(shù)更是創(chuàng)歷年新高！
回顧本次大會(huì)，在內(nèi)容上打破此前以材料為主題的專場(chǎng)劃分，聚焦半導(dǎo)體材料分析、可靠性測(cè)試和失效分析、缺陷檢測(cè)和量測(cè)等檢測(cè)技術(shù)，直播間里報(bào)告專家與聽眾充分交流，會(huì)議也收到“內(nèi)容質(zhì)量高”，“收獲很大”等良好反饋。同時(shí)，瑞昌明盛也在線征集和聽取了聽眾們對(duì)于會(huì)議內(nèi)容更多的需求與期待，以保證下一屆會(huì)議更好地幫助到網(wǎng)友們的工作。應(yīng)廣大網(wǎng)友強(qiáng)烈要求，現(xiàn)將征得本人同意的報(bào)告視頻整理如下。點(diǎn)擊“回放”即可進(jìn)入視頻播放頁面。
| 半導(dǎo)體材料分析技術(shù)新進(jìn)展 | ||
| 等離子體質(zhì)譜在半導(dǎo)體用高純材料的分析研究 | 汪正（中國(guó)科學(xué)院上海硅酸鹽研究所 研究員） | 回放 |
| 有機(jī)半導(dǎo)體材料的質(zhì)譜分析技術(shù) | 王昊陽（中國(guó)科學(xué)院上海有機(jī)化學(xué)研究所 高級(jí)工程師） | 回放 |
| 牛津儀器顯微分析技術(shù)在半導(dǎo)體中的應(yīng)用進(jìn)展 | 馬嵐（牛津儀器科技（上海）有限公司 應(yīng)用工程師） | 回放 |
| 透射電子顯微鏡在氮化物半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)解析中的應(yīng)用 | 王濤（北京大學(xué) 高級(jí)工程師） | 無 |
| 集成電路材料國(guó)產(chǎn)化面臨的性能檢測(cè)需求 | 桂娟（上海集成電路材料研究院 工程師） | 無 |
| 離子色譜在高純材料分析中的應(yīng)用 | 李青（中國(guó)科學(xué)院上海硅酸鹽研究所 助理研究員） | 回放 |
| 拉曼光譜在半導(dǎo)體晶圓質(zhì)量檢測(cè)中的應(yīng)用 | 劉爭(zhēng)暉（中國(guó)科學(xué)院蘇州納米技術(shù)與納米仿生研究所 教授級(jí)高級(jí)工程師） | 回放 |
| 半導(dǎo)體—離子色譜檢測(cè)解決方案 | 王一臣（青島盛瀚色譜技術(shù)有限公司 產(chǎn)品經(jīng)理） | 回放 |
| 寬禁帶半導(dǎo)體色心的能量束直寫制備及光譜表征 | 徐宗偉（天津大學(xué)精密測(cè)試技術(shù)及儀器國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室 教授） | 回放 |
| 可靠性測(cè)試和失效分析技術(shù) | ||
| 碳化硅器件的新型電力系統(tǒng)應(yīng)用與可靠性研究 | 田鴻昌（中國(guó)電氣裝備集團(tuán)科學(xué)技術(shù)研究院有限公司 電力電子器件專項(xiàng)負(fù)責(zé)人） | 回放 |
| 集成電路激光試驗(yàn)測(cè)試技術(shù)研究 | 馬英起（中國(guó)科學(xué)院國(guó)家空間科學(xué)中心 正高級(jí)工程師） | 無 |
| 失效半導(dǎo)體器件檢測(cè)技術(shù)及案例分享 | 江海燕（北京軟件產(chǎn)品檢測(cè)檢驗(yàn)中心 集成電路測(cè)評(píng)實(shí)驗(yàn)室項(xiàng)目經(jīng)理） | 回放 |
| 半導(dǎo)體元器件材料分析、失效分析技術(shù)與案例解析 | 賈鐵鎖（甬江實(shí)驗(yàn)室微譜（浙江）技術(shù)服務(wù)有限公司 失效分析工程師） | 無 |
| 可靠性測(cè)試和失效分析技術(shù)（賽寶實(shí)驗(yàn)室專場(chǎng)） | ||
| 高端集成電路5A分析評(píng)價(jià)技術(shù) | 師謙（工業(yè)和信息化部電子第五研究所 高級(jí)工程師） | 無 |
| 光學(xué)顯微分析技術(shù)在半導(dǎo)體失效分析中的應(yīng)用 | 劉麗媛（工業(yè)和信息化部電子第五研究所 高級(jí)工程師） | 無 |
| 集成電路振動(dòng)、沖擊試驗(yàn)評(píng)價(jià) | 鄧傳錦（工業(yè)和信息化部電子第五研究所 高級(jí)工程師） | 無 |
| 光發(fā)射顯微鏡原理及在失效分析中的應(yīng)用 | 蔡金寶（工業(yè)和信息化部電子第五研究所 部門主任/高級(jí)工程師） | 無 |
| 半導(dǎo)體集成電路熱環(huán)境可靠性試驗(yàn)方法與標(biāo)準(zhǔn) | 陳鍇彬（工業(yè)和信息化部電子第五研究所 工程師） | 無 |
| 電子制造中的可靠性工程 | 鄒雅冰（工業(yè)和信息化部電子第五研究所 高級(jí)工程師/工藝總師） | 無 |
| 集成電路靜電放電失效分析與評(píng)價(jià) | 何勝宗（工業(yè)和信息化部電子第五研究所 高級(jí)工程師） | 無 |
| 缺陷檢測(cè)與量測(cè)技術(shù) | ||
| 半導(dǎo)體芯片量檢測(cè)技術(shù)及裝備 | 楊樹明（西安交通大學(xué) 教授） | 無 |
| 國(guó)家納米計(jì)量體系與半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)應(yīng)用 | 施玉書（中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院納米計(jì)量研究室主任 主任/副研究員） | 回放 |
| 面向集成電路微納檢測(cè)設(shè)備產(chǎn)業(yè)的自溯源納米長(zhǎng)度計(jì)量體系 | 鄧曉（同濟(jì)大學(xué) 副教授） | 無 |
